特許

J-GLOBAL ID：200903052303803101

表示装置の検査方法

発明者： 熊谷 勝志
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-125853
公開番号（公開出願番号）：特開2000-314674
出願日： 1999年05月06日
公開日（公表日）： 2000年11月14日
要約：

【要約】【課題】この発明は、画面上の点状欠点を確実且つ容易に検査できる表示装置の検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】プロジェクターに組込まれる液晶パネルを検査する検査装置は、液晶パネルを装着してその画像をスクリーンに投影する投影装置を有している。オペレータは、スクリーンに投影された画面(被検査画面)を見て、液晶パネルの点状欠点(輝点や滅点)を検査する。このとき、スクリーン上には、所定の検査パターンを含む被検査画面が投影される。検査パターンには、黒表示された矩形の中央領域とその周辺で白表示された周辺領域とを有する第1検査パターン、および白表示された中央領域と黒表示された周辺領域とを有する第2検査パターンがあり、第1および第2検査パターンを交互に表示することにより、輝点の有無、位置、個数などを容易に検査できる。

請求項（抜粋）：

複数の表示画素が配列された画面上の異常表示画素の位置を検査する表示装置の検査方法において、上記画面を表示輝度あるいは表示色の異なる複数の領域に区分した検査パターンを上記画面を介して表示し、上記異常表示画素がある領域を特定することを特徴とする表示装置の検査方法。

IPC (6件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/20 670 ,  G09G 3/36 ,  H04N 17/04

FI (6件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/13 101 ,  G09F 9/00 352 ,  G09G 3/20 670 Q ,  G09G 3/36 ,  H04N 17/04 Z

Fターム (33件)：

2G086EE10 ,  2H088EA12 ,  2H088FA11 ,  2H088MA20 ,  5C006AA22 ,  5C006AF35 ,  5C006AF44 ,  5C006BB11 ,  5C006EB01 ,  5C006EC11 ,  5C006FA41 ,  5C061BB01 ,  5C061BB02 ,  5C061BB09 ,  5C061CC05 ,  5C061EE21 ,  5C080AA10 ,  5C080BB05 ,  5C080CC03 ,  5C080DD15 ,  5C080EE30 ,  5C080JJ01 ,  5C080JJ02 ,  5C080JJ07 ,  5G435AA17 ,  5G435BB12 ,  5G435BB17 ,  5G435CC12 ,  5G435DD02 ,  5G435DD04 ,  5G435GG46 ,  5G435KK05 ,  5G435LL15