特許

J-GLOBAL ID：200903052305031980

二次電池の劣化検出方法及び容量検出方法

発明者： 神原 輝壽 ,  世利 肇 ,  山田 義則 ,  竹山 健一
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 東島 隆治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-167502
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014718
出願日： 1997年06月24日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】 過去の充放電履歴に関わらずその劣化の程度を定量的に評価し、さらに現在の放電容量を実際に放電しなくともこれを推定する方法を提供する。【解決手段】 被検二次電池の1時間率の公称容量をC(mAh)とするとき、前記電池に5C(mA)以上の大電流を印加し、電池電圧が特定値になるまでの時間Tにより、その電池の特性劣化の指数として表現することにより二次電池の劣化の度合いを定性的に評価する。さらに、前記時間Tを次式(式中i=1,2、・・n、kiは印過電流、停止電圧及び電池種類によりあらわきめ定められた固有の値)に入力することで、被検電池の放電容量を推測する。【数1】

請求項（抜粋）：

被検二次電池の1時間率の公称容量をC(mAh)とするとき、前記二次電池に5C(mA)以上の大電流を印加し、電池電圧が特定値になるまでの時間Tを測定し、この値を所定の計算式に入力演算することにより数値パラメータを算出し、この数値パラメータにより前記二次電池の劣化の度合いを定量的に判別することを特徴とする二次電池の劣化検出方法。

IPC (3件)：

G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00

FI (3件)：

G01R 31/36 A ,  H01M 10/48 P ,  H02J 7/00 Q