特許
J-GLOBAL ID：200903052322655350
ガラスビード法を用いた蛍光X線分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
杉本 修司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-148871
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322810
出願日： 1992年05月15日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 ガラスビード法を用いた蛍光X線分析方法において、試料の揮散量や強熱増量の他に融剤の揮散量をも考慮して、試料の組成を分析することで、分析精度を向上させる。【構成】 試料1と融剤3とを加熱溶融して調製したガラスビード4に一次X線B1を照射し、このガラスビード4から発生した各元素の蛍光X線B2の強度を測定し、これらの蛍光X線B2の測定強度に基づいて各元素の濃度比を演算することにより、試料の組成を分析するガラスビード法を用いた蛍光X線分析方法に関する。まず、ガラスビード調製前の試料の重量Sと、ガラスビードの重量Bとを予め秤量する。ガラスビード調製時の上記試料の揮散量をLとし、ガラスビード調製後の上記融剤の重量をF1としたとき、F1/S={(B/S)-1}+L/Sであることを利用することで、試料1および融剤3の揮散量L、ΔFによる分析誤差を補正して試料1の組成を分析する。
請求項（抜粋）：
試料と融剤との混合物を加熱溶融して調製したガラスビードに放射線を照射し、このガラスビードから発生した各元素の蛍光X線の強度を測定し、これらの蛍光X線の測定強度に基づいて各元素の濃度比を演算することにより、上記試料の組成を分析するガラスビード法を用いた蛍光X線分析方法において、ガラスビード調製前の試料の重量Sと、ガラスビードの重量Bとを予め秤量し、ガラスビード調製時の上記試料の揮散量をLとし、ガラスビード調製後の上記融剤の重量をF1としたとき、F1/S={(B/S)-1}+L/Sであることを利用することで、上記試料および融剤の揮散量L、ΔFによる分析誤差を補正して上記試料の組成を分析することを特徴とするガラスビード法を用いた蛍光X線分析方法。
IPC (2件)：
引用特許：
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