特許

J-GLOBAL ID：200903052338330354

ガス分析計

発明者： 木原 信隆 ,  小島 建之助
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： 藤本 英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-023187
公開番号（公開出願番号）：特開平5-188000
出願日： 1992年01月12日
公開日（公表日）： 1993年07月27日
要約：

【要約】【目的】 ダブルセル流体変調方式のガス分析計において光チョッピングによって感度補正を行う場合、2つのセルに対応する受光室が受光する平均光量を互いに等しくすることにより、過渡特性を改善し、精度よく定量分析できるようにすること。【構成】 2つのセル1,2をそれぞれ照射するための2つの光源9,10に同一の電源11からの電力を供給すると共に、光チョッピングを行わない他の光源10に対応して設けられたセル2側の受光室IIまでの光路中に、当該受光室IIへの光量を減ずるための減光手段26を設けている。

請求項（抜粋）：

一端側にそれぞれ光源を備えた2つのセルの他端側に、セル透過後の光をそれぞれ受光するための2つの受光室を備えたニューマティック検出器を設けると共に、試料ガスと比較ガスとを、一定周期かつ一定量で、しかも、各セルを流れるガスが互いに異なるように、2つのセルに対して供給する一方、一つの光源において光チョッピングを行って測定光をセルに照射するようにしたガス分析計において、前記両光源に同一の電源からの電力を供給すると共に、光チョッピングを行わない他の光源に対応して設けられたセル側の受光室までの光路中に、当該受光室への光量を減ずるための減光手段を設けたことを特徴とするガス分析計。