特許
J-GLOBAL ID：200903052339573439
分光光度計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-348141
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185686
出願日： 1996年12月26日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：
【要約】【課題】 分光光度計の測定時間内における光源の強度の時間的変動を無くし、測光値の時間的変化に関してS/Nを安定させることができるようにする。【解決手段】 測定開始時に、CPU8はモニター用光検出器7の出力を増幅器10、A/D変換器13を介して取り込み、この時の光源の光強度より測定中の光強度を設定する。そして、測定時間中、モニター用光検出器7からの検出信号が設定された光強度値に維持されるように、CPU8が光源1の駆動電流をフィードバック制御する。一方、ハーフミラー2を透過した光は分光器3内の回折格子4によって分光されて設定された波長の光が試料セル5に照射され、試料セル5を透過した光は試料側光検出器6によって検出され、その検出信号は増幅器9、A/D変換器12を介してCPU8に取り込まれ、試料セル5内の試料の吸光度あるいは透過率が演算される。
請求項（抜粋）：
光源からの光をサンプルセルに照射し、サンプルセルを透過した光を検出器により検出する分光光度計において、光源からの光強度をモニターするモニター用光検出器と、光源の駆動電流を制御する制御回路とを備え、前記制御回路は測定開始時にモニター用光検出器の出力をサンプリングし、この値により測定時の光源の光強度を決定し、測定中この光強度を維持するように光源に供給する電流値を制御することを特徴とする分光光度計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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