特許
J-GLOBAL ID：200903052371703743
IC試験装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外11名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-329345
公開番号（公開出願番号）：特開平11-160388
出願日： 1997年11月28日
公開日（公表日）： 1999年06月18日
要約：
【要約】【課題】 IC試験装置において、被測定デバイスの電源に接続する低周波用コンデンサをON/OFFする回路の簡略化。【解決手段】 低周波用コンデンサ1の接続が必要となる高速DUTの試験ではテストボード上の負荷回路は使用しないため、この負荷回路のために用意されている負荷用電源回路7は使用されないので、低周波用コンデンサ1をON/OFFするリレー4を前記負荷用電源回路7のON/OFFによって行うことにより回路を簡略化する。
請求項（抜粋）：
複数の被測定デバイスの電源端子毎に個別に電源を供給する複数の電源回路と、前記各電源回路に並列に接続された低周波用コンデンサと、該コンデンサ毎に設けられ、接点が該コンデンサにそれぞれ直列に接続されたリレーと、テストボード上の負荷回路のための負荷用電源回路とを具備し、前記負荷用電源回路の電圧によって前記リレーの励磁コイルを駆動することを特徴とするIC試験装置
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01R 31/26 G
, G01R 31/28 M
, G01R 31/28 Y
