特許

J-GLOBAL ID：200903052396090185

液面レベル測定方法および装置

発明者： 濱野 満 ,  高橋 和成 ,  植村 敏幸
出願人/特許権者： 株式会社新潟鉄工所
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外8名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-108608
公開番号（公開出願番号）：特開2000-298054
出願日： 1999年04月15日
公開日（公表日）： 2000年10月24日
要約：

【要約】【課題】 表面に複雑で大きな波立ちや泡立ちが生じる粘度の高い煉り状液体に対しても、低コストで安定して液面レベルの測定を行う事ができる液面レベル測定方法および装置の提供。【解決手段】 液面にスリット光を照射し該スリット光が照射された液面を撮像して該撮像情報に基づき液面に関する距離を複数の異なる位置について算出して距離データ群を作成する事により、表面に複雑で大きな波立ちや泡立ちが生じる粘度の高い煉り状液体であっても、波立ちや泡立ちを抑える特別な工夫を必要とせず液面レベルの測定を行う事ができる。またスリット光も撮像情報も温度変化の影響を受ける事がないので、安定して液面レベルの測定を行う事ができる。さらにスリット光を用いるため光の出力レベルを大きくする必要がなく液面での乱反射の発生を抑えた上で液面レベルの測定を行う事ができる。

請求項（抜粋）：

液面にスリット光を照射し該スリット光が照射された液面を撮像して該撮像情報に基づき液面に関する距離を複数の異なる位置について算出して距離データ群を作成する事を特徴とする液面レベル測定方法。

IPC (2件)：

G01F 23/28 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01F 23/28 L ,  G06F 15/62 380

Fターム (8件)：

2F014AA01 ,  2F014AB02 ,  2F014FA04 ,  5B057CE02 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DC02 ,  5B057DC36