特許
J-GLOBAL ID：200903052503666931

遅延引き出し付きタンデム飛行時間型質量分析計および使用方法

発明者：
マービン エル. ベスタル

マービン エル. ベスタル について


出願人/特許権者：
パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド

パーセプティブ バイオシステムズ,インコーポレイテッド について


代理人 (1件)： 山本 秀策 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-126506
公開番号（公開出願番号）：特開2003-346705
出願日： 1999年02月05日
公開日（公表日）： 2003年12月05日
要約：
【要約】【課題】 サンプルの分子量に関して優れたデータを提供するのみならず、分子構造の情報を提供し、ペプチドまたはオリゴヌクレオチドの配列決定などの生物学的適用に必要な感度および分解能を提供する。【解決手段】 本発明に従って、パルス化イオン発生器と、パルス化イオン発生器と連絡するタイミング制御イオンセレクタと、イオンセレクタと連絡するイオンフラグメント器と、フラグメンテーションチャンバと連絡する分析器とを有する、タンデム飛行時間型質量分析計を提供する。
請求項（抜粋）：
a)第1の実質的に電場を有さない領域にイオンを引き出し、所定の質量電荷比範囲のイオンを焦点面上に集束させるように位置された第1のタイミング制御イオン引き出し器に結合された、パルス化イオン源と;b)該第1の実質的に電場を有さない領域と流体連絡する、イオンフラグメント器と;c)該イオンフラグメント器と流体連絡する、第2の実質的に電場を有さない領域と;d)該イオンフラグメント器と、該第2の実質的に電場を有さない領域との間に位置された第2のタイミング制御イオン引き出し器であって、該第2のタイミング制御イオン引き出し器は、所定の時間後に、イオンおよびそのフラグメントイオンを、該イオンフラグメント器から該第2の実質的に電場を有さない領域へと加速するように位置された、第2のタイミング制御イオン引き出し器と;e)該第2の実質的に電場を有さない領域と流体連絡するイオンミラーであって、該イオンミラーは、該第2のタイミング制御イオン引き出し器によって該第2の実質的に電場を有さない領域へと加速された該フラグメントイオンの少なくとも一部を、イオン検出器上に集束させるように位置された、イオンミラーと;を備える、タンデム飛行時間型質量分析計。
IPC (4件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/10
FI (5件)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/62 G ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/06 ,  H01J 49/10
Fターム (6件)：
5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038FF13 ,  5C038GG07 ,  5C038GH13 ,  5C038GH15
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 特表平7-500449
  • タンデム質量分析
    公報種別：公表公報   出願番号：特願平8-500523   出願人：ユニバーシティオブワーウィック
  • タンデム質量分析計
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-298100   出願人：ユニサーチ・リミテツド

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