特許
J-GLOBAL ID：200903052548239058
ICの自動試験方法及びプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
穂坂 和雄
, 山谷 晧榮
, 小笠原 吉義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-138063
公開番号（公開出願番号）：特開2005-321242
出願日： 2004年05月07日
公開日（公表日）： 2005年11月17日
要約：
【課題】本発明はICの自動試験方法及びプログラムに関し,複数の品種のICの試験を簡単な操作により設定して自動的に試験を実行できることを目的とする。【解決手段】複数種のICを連続して試験するため各ICの特性と試験条件を表すそれぞれ複数のIDからなる試験コードが複数個設定されたスケジュール表と試験コードの各IDの意味を表すIDの定義テーブルを試験制御装置に入力し,試験開始の指示によりスケジュール表の試験コードの1番目の番号を取り出して,試験コードに対応する試験プログラムの条件を設定し,ICをトレー部から移動して試験制御装置に接続するソケット部にセットして試験を実行し,1番目の試験コードによる試験が終了すると,スケジュール表の次の番号の試験コードを取り出して,対応する試験プログラムの条件を設定して対象とするICについて試験を行い,全ての試験を順次実行するよう構成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試験制御装置の試験プログラムによりICの試験を行うICの自動試験方法において,
複数種のICを連続して試験するため各ICの特性と試験条件を表すそれぞれ複数のID(識別番号)からなる試験コードが複数個設定されたスケジュール表と前記試験コードの各IDの意味を表すIDの定義テーブルを前記試験制御装置内に入力し,
試験開始の指示により前記スケジュール表の試験コードの1番目の番号を取り出して,前記IDの定義テーブルを参照することで当該試験コードに対応する試験プログラムの条件を設定し,
ICを移動させるハンドラを制御して前記1番目の試験コードに対応する試験の対象となるICが収容されたトレー部からICを移動して前記試験制御装置に接続するソケット部にセットして試験を実行し,
前記1番目の試験コードによる試験が終了すると,前記スケジュール表の次の番号の試験コードを取り出して,対応する試験プログラムの条件を設定して対象とするICについて試験を行い,スケジュール表に設定された全ての試験を順次実行することを特徴とするICの自動試験方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G132AA08
, 2G132AE01
, 2G132AE23
, 2G132AE30
, 2G132AF01
, 2G132AG02
, 2G132AL25
出願人引用 (2件)
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特開平1-180471号公報
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特開平1-266733号公報
審査官引用 (3件)
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半導体試験装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-263241
出願人：株式会社アドバンテスト
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プリント配線板検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平9-330996
出願人：株式会社日立テレコムテクノロジー, 大西電子株式会社
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IC試験方法
公報種別：公開公報
出願番号：特願平11-283918
出願人：株式会社アドバンテスト
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