特許
J-GLOBAL ID:200903052557499933

多孔質セラミック素子及び比較電極並びに自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 足立 勉 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-370250
公開番号(公開出願番号):特開2001-183335
出願日: 1999年12月27日
公開日(公表日): 2001年07月06日
要約:
【要約】【課題】 多孔質セラミック素子における液絡(従って導通性)を確実にして、正確に試料の分析を行うことができる多孔質セラミック素子及び比較電極並びに自動分析装置を提供すること。【解決手段】 試料中の電解質成分を分析するために用いられる比較電極20において、その内部液36が入れられ内部電極37が挿入される容器31と、内部標準液24が流通する流路32とを接続する連通孔34に、液絡用の多孔質セラミック素子35が配置されており、この多孔質セラミック素子の気孔率は、20〜50%である。
請求項(抜粋):
試料中の電解質成分を分析するために使用する比較電極に用いられる多孔質セラミック素子であって、その多孔質セラミック素子の気孔率が20%〜50%である多孔質セラミック素子。
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平2-112751
  • 特開昭54-160298
  • 特開平2-112751
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