特許
J-GLOBAL ID：200903052573368938
評価用試験体およびそれを用いた陶磁器用素地と陶磁器用釉薬の適合度評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-302449
公開番号（公開出願番号）：特開2003-104770
出願日： 2001年09月28日
公開日（公表日）： 2003年04月09日
要約：
【要約】【課題】 焼成時に発生する陶磁器用素地と陶磁器用釉薬の間の応力を相互効果の影響を加味して評価できる評価用試験体と陶磁器用素地と陶磁器用釉薬の適合度評価方法を提供する。【解決手段】 陶磁器用素地と陶磁器用釉薬の適合度の評価に用いる評価用試験体であって、陶磁器用素地で成形した薄板状の素地成形体と、この素地成形体の薄肉表面部以外の二つの大面積の表面部の一方の面に陶磁器用釉薬を施釉した釉薬層とからなる。前記表面部が長辺と短辺を有し、前記表面部の前記長辺方向の形状が楕円形、半円形、V字形、L字形、コの字形の中から選ばれたいずれかの形状である。そして、前記表面部の両端の前記短辺間の長さ寸法が大きい側の表面部に施釉して釉薬層を形成している。
請求項（抜粋）：
陶磁器用素地と陶磁器用釉薬の適合度の評価に用いる評価用試験体であって、陶磁器用素地で成形した薄板状の素地成形体と、この素地成形体の薄肉表面部以外の二つの大面積の表面部の一方の面に陶磁器用釉薬を施釉した釉薬層とからなることを特徴とする評価用試験体。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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