特許
J-GLOBAL ID:200903052575308088

分割パターン認識方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-038309
公開番号(公開出願番号):特開平6-245928
出願日: 1993年02月26日
公開日(公表日): 1994年09月06日
要約:
【要約】【目的】 蓄積性蛍光体シートやX線フイルム等の記録シートに記録された放射線画像の分割パターン認識方法および装置において、分割パターンの認識の際に分割パターンを誤って認識することをなくする。【構成】 放射線画像を表す画像信号1のヒストグラム2を作成し、このヒストグラム2から被写体部分の画像信号値3を求め、次いで、この画像信号値3に基づいて被写体部分を1、それ以外の部分を0として2値化し2値化画像4を得る。次いで、この2値化画像4の各セグメントにラベリング処理5を施し、このラベリング処理5が施された各セグメントについて個別評価6および相互評価7を行い、この個別評価6と相互評価7との結果に基づいて、分割パターンの決定8を行う。
請求項(抜粋):
1または複数の放射線画像が記録された記録シートから得られた該放射線画像を表す画像信号から前記放射線画像における被写体部分の画像信号値を求め、該画像信号値に基づいて前記放射線画像における前記被写体部分と、それ以外の部分とを2値化して2値化画像を求め、該2値化画像にラベリング処理を施すことにより、該2値化画像を1または複数のセグメントに分割し、該分割された個々のセグメントの個別評価および/または各セグメントの相互評価に基づいて前記放射線画像の分割パターンを認識することを特徴とする分割パターン認識方法。
IPC (4件):
A61B 6/00 ,  G03B 42/02 ,  G06F 15/62 390 ,  G06F 15/70 455
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開昭52-014034

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