特許

J-GLOBAL ID：200903052626110334

LCDパネルの検査方法

発明者： 安富 文夫 ,  藤田 日出人
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-053559
公開番号（公開出願番号）：特開平9-243980
出願日： 1996年03月11日
公開日（公表日）： 1997年09月19日
要約：

【要約】【課題】 この発明は、電圧依存の線欠陥の検査時間の短縮化が図れるLCDパネルの検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】 LCDパネル1の駆動電圧を変化させながら、LCDパネル1の行または列の1ラインを1次元の撮像センサ11によって撮像し、1次元の撮像センサ11の出力を駆動電圧が変化するごとに取り込み、取り込まれた各1ライン分ずつの画像を、2次元の画像メモリ21に1ラインずつずらして格納していくことによって2次元画像を生成し、得られた2次元画像に基づいて電圧依存の線欠陥の有無を検査する。

請求項（抜粋）：

LCDパネルの駆動電圧を変化させながら、LCDパネルの行または列の1ラインを1次元の撮像センサによって撮像し、1次元の撮像センサの出力を駆動電圧が変化するごとに取り込み、取り込まれた各1ライン分ずつの画像を、2次元の画像メモリに1ラインずつずらして格納していくことによって2次元画像を生成し、得られた2次元画像に基づいて電圧依存の線欠陥の有無を検査するLCDパネルの検査方法。

IPC (3件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 ,  G09G 3/36

FI (3件)：

G02F 1/13 101 ,  G01M 11/00 T ,  G09G 3/36