特許

J-GLOBAL ID：200903052635599850

測定方法

発明者： 中島 靖 ,  島田 卓也
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 丸島 儀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-147650
公開番号（公開出願番号）：特開平8-015134
出願日： 1994年06月29日
公開日（公表日）： 1996年01月19日
要約：

【要約】【目的】 分光特性値の測定において、波長依存性のある波長ずれに起因するような機差または経時変化を補正変換することが可能な測定方法の提供。【構成】 2つの測定機で得られた2つの分光測定値、あるいは異なる時刻における2つの分光測定値より、測定値の波長軸のずれを波長のシフト量として検出し、このシフト量を当該ずれの補正係数として補正変換する。

請求項（抜粋）：

2つの分光測定値より該測定値の波長軸のずれを波長のシフト量として検出し、このシフト量を当該ずれの補正係数として補正変換することを特徴とする測定方法。