特許
J-GLOBAL ID：200903052643632794

X線CTスキャナ装置およびX線貨物検査方法

発明者：
米田 吉之

米田 吉之 について

, 
小泉 洋人

小泉 洋人 について


出願人/特許権者：
株式会社日立エンジニアリングサービス

株式会社日立エンジニアリングサービス について


代理人 (1件)： 高田 幸彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-035324
公開番号（公開出願番号）：特開2000-235007
出願日： 1999年02月15日
公開日（公表日）： 2000年08月29日
要約：
【要約】【課題】被検体について迅速にしてかつ高分解能を有するX線CTスキャンを可能にしたX線CTスキャン装置および方法を提供することを目的とする。【解決手段】X線検査装置21,22,23,24を回転させる回転装置3を設け、X線発生器4,4′とX線検出器5,5′からなるペアを複数個を同一面上で、かつ所定角度を置いて配設し、各検出器で同一角度にある被検体を同時に異方向から検出した透過X線に基づく投影データを構成する装置および、構成された投影データを処理する装置を設けた。
請求項（抜粋）：
X線発生器とX線検出器と対向配置し、被検体について前記X線発生器から照射されて透過した透過X線を前記X線検出器にて検出し、検出信号を処理して被検体の断層影像を形成するX線CTスキャナ装置において、搬送用コンベヤを包囲して回転体を配設し、前記X線発生器とX線検出器とからなるペアを複数個所定角度を置いて前記回転体上に配設し、該回転体を回転させる回転駆動装置を設け、各X線検出器で検出した透過X線に基づいて被検体の全体投影データを構成する投影データ構成装置を設け、および構成された投影データを画像処理する画像処理装置を設けたことを特徴とするX線CTスキャナ装置。
IPC (2件)：
G01N 23/04 ,  G01V 5/00
FI (2件)：
G01N 23/04 ,  G01V 5/00 A
Fターム (19件)：
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA06 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA07 ,  2G001HA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA06 ,  2G001JA09 ,  2G001JA13 ,  2G001LA10 ,  2G001PA01 ,  2G001PA03 ,  2G001PA11
引用特許：
審査官引用 (3件)
  • 方形横断CT検出方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-171874   出願人：アナロジックコーポレーション
  • 特開昭63-288138
  • 特開平2-052640

前のページに戻る

TOP

BOTTOM