特許

J-GLOBAL ID：200903052658032068

フロー式粒子画像解析装置及びフロー式粒子画像解析方法

発明者： 堀内 秀之 ,  桜庭 伸一 ,  矢辺 良平
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-005920
公開番号（公開出願番号）：特開平6-213799
出願日： 1993年01月18日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：

【要約】【目的】粒子検出光学系と静止画像撮像光学系とを備えたフロー式粒子画像解析装置及びその解析方法において、各光学系の構成及び調整が簡単で、正確に粒子検出ができ、かつ良好な静止画像が得られ高精度な分析ができるようにする。【構成】顕微鏡コンデンサレンズ3とフローセル4の間に設置された微小反射鏡19により、粒子検出用のレーザ光束をフローセル4の粒子の画像取り込み領域の上流側の近接位置に導き、上記レーザ光の散乱光によりサンプル液流れ13中の粒子の通過を検出し、この検出に基づいてフラッシュランプ光源1よりパルス光を発生させ粒子の静止画像を撮像する。微小反射鏡19は、顕微鏡コンデンサレンズ3で集束されるパルス光束の周縁部に粒子検出用のレーザ光束の光路を接近させ、かつ集束されるパルス光束にその光路を交差させないようにする。

請求項（抜粋）：

粒子を懸濁させたサンプル液が供給されるフローセルと、パルス光束を発するパルス光源、このパルス光源より発せられるパルス光束を集束させ前記フローセルに照射するコンデンサレンズ、及び前記フローセルに照射されたパルス光束に基づく前記フローセル中の通過粒子の画像を取り込んで撮像する撮像手段を有する静止画像撮像光学系と、得られた静止画像を画像解析し該サンプル液中の粒子の分析を行う粒子分析手段とを備えるフロー式粒子画像解析装置において、検出光を発する検出光源、前記コンデンサレンズと前記フローセルとの間に設けられ前記検出光を前記粒子の画像取り込み領域の上流側の近接した位置に導く反射鏡、及び前記検出光の散乱光により前記粒子の存在を検出する粒子検出手段を有する粒子検出光学系と、前記粒子検出手段による検出に基づいて前記静止画像撮像光学系を動作させる撮像制御手段とを備えることを特徴とするフロー式粒子画像解析装置。