特許
J-GLOBAL ID：200903052751502627
変位測定装置およびこの装置の光走査制御方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
篠部 正治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-357447
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183165
出願日： 1997年12月25日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】広範囲にある光反射体への投射光の制御ができ、また投光器側の位置ずれが生じても誤報しない変位測定装置および光走査制御方法を提供する。【解決手段】観測地点A1〜A3に設置される光反射体5(R1〜R3) と、投光器21の光を光反射体5に2次元的に走査しこの反射光42を受光器22に導く光走査・制御手段64と,この手段64の光走査方向を指示する光走査方向指示手段63と,光走査・制御手段64を操作し当該光反射体R1から最大の反射光を受光したときの2次元走査角を計測する走査角計測手段76,77 と,光の出射から受光までの時間差から各光反射体5までの距離Lを計測する距離計測手段8と,この光反射体5までの距離L1と走査角α1,β1 とから投光器21または受光器22あるいは観測地点A1に設置された1つの光反射体R1を基準とする各光反射体との相対位置を求める演算手段91,92 を備える距離・受光強度計測装置61,62 と、を備える。
請求項（抜粋）：
1つ以上の観測地点にそれぞれ設置される光反射体と、この光反射体に光を投射し光反射体によって反射される光を受光して各光反射体までの距離を計測する距離・受光強度計測装置からなる変位測定装置において、距離・受光強度計測装置は、投光器の発光素子からの光を光反射体に2次元的に走査する投光用光走査・制御手段と、この光反射体からの反射光を受光器の受光素子に導く受光用光走査・制御手段と、この投光用光走査・制御手段および受光用光走査・制御手段(以下、光走査・制御手段と略称する)に光走査方向を指示する光走査方向指示手段と、この光走査方向指示手段で指示された方向に光走査・制御手段を操作し,当該光反射体からの反射光を受光素子で受光したときの光走査・制御手段の2次元の走査角を計測する走査角計測手段と、光の出射から受光までの時間差から各光反射体までの距離を計測する距離計測手段と、この距離計測手段による光反射体までの距離と光走査・制御手段による制御計測された走査角とから,投光器または受光器を基準とする各光反射体との相対位置を求める演算手段とを備えることを特徴とする変位測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
前のページに戻る
