角形チップの半田付状態の検査方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小鍜治明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-111178
公開番号（公開出願番号）：特開平5-306913
出願日： 1992年04月30日
公開日（公表日）： 1993年11月19日
要約：

【要約】【目的】様々なカテゴリーの半田付状態を検出して、その良否を的確に判定できる方法を説明する。【構成】照明光の照射角度を変えて第1の画面Aと第2の画面Bをカメラ7に取り込むことにより、良否判定のための画像データの量を多くしている。そして入手された第1の画面Aを2値画像などにスレッシュ化し、スレッシュ化された画像に基づいて、第2の画面Bで電極3を含む領域にウィンドウWを設定し、このウィンドウW内でスレッシュ化された画像に基づいて、半田付状態の良否判定を行う。【効果】チップ無し、位置ずれ、チップ立ち、未着などの様々なカテゴリーの不良品を同一のアルゴリズムで判別できる。

請求項（抜粋）：

(i)基板に搭載されたチップに照明光を照射してカメラにより第1の画面を取り込むプロセスと、(ii)照明光の照射角度を変えてカメラにより第2の画面を取り込むプロセスと、(iii)上記第1の画面でランドを含む全体をスレッシュ化するプロセスと、(iv)上記(iii)のプロセスでスレッシュ化して得られた第1の画像に基いて、電極とランドを含む領域にウィンドウを設定するプロセスと、(v) ウィンドウ内において、上記(ii)のプロセスで入手した第2の画面をスレッシュ化するプロセスと、(vi) スレッシュ化された画像データに基づいて半田付状態の良否を判定するプロセスと、から成ることを特徴とする角形チップの半田付状態の検査方法。

IPC (4件)：

G01B 11/24 , B23K 1/00 , G01N 21/88 , H05K 3/34

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭62-123339
特開昭61-293659
特開平2-278105

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