特許
J-GLOBAL ID：200903052827089791
写真測量装置及び写真測量システム
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
山田 卓二
, 田中 光雄
, 和田 充夫
, 中塚 雅也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-214824
公開番号（公開出願番号）：特開2007-212430
出願日： 2006年08月07日
公開日（公表日）： 2007年08月23日
要約：
【課題】写真測量を用いた測定対象の三次元形状の測定において、処理を自動化することによって手間を省略するとともに、より正確に測定する【解決手段】複数の撮影装置で撮影された撮影画像から測定画像を作成する測定画像作成部33bと、測定画像からそれぞれの撮影装置に対応する対応点座標を抽出する対応点抽出部33cと、前記対応点座標から前記測定対象の三次元形状を求める形状測定部33dと、前記対応点座標に対し前記測定対象の撮影位置と前記設計データによって決定されている前記測定対象の基準位置との誤差補正を行い、前記測定対象の三次元形状を補正する位置補正部33eと、前記位置補正部により補正された三次元形状と前記設計データを比較することによって、前記測定対象の変形箇所の位置と変形量とを算出する変形量算出部33fとを備える。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
撮影装置によって異なる複数の位置から撮影した画像を用いて測量対象の三次元形状を測量する写真測量装置であって、
測定対象周辺に配置した複数の基準点を含む空間を撮影する複数の前記撮影装置の撮影動作を制御する撮影制御部と、
前記撮影制御部の動作により前記複数の撮影装置で撮影された撮影画像を用いて、それぞれの撮影装置に対応する測定画像を作成する測定画像作成部と、
前記測定画像からそれぞれの撮影装置に対応する測定画像に共通する基準点の対応点座標を抽出する基準点抽出部と、
前記測定画像からそれぞれの撮影装置に対応する測定画像に共通する測定対象について特定された特徴点の特徴点座標と当該特徴点について他の測定画像上で対応づけられた対応点の対応点座標を抽出する対応点抽出部と、
前記特徴点座標と対応点座標から前記対応点の三次元的な位置情報を求め、前記対応点の位置情報に基づいて、前記測定対象の三次元形状を求める形状測定部と、
前記形状測定部によって求められた対応点の三次元位置と前記測定対象の設計データによって決定されている前記測定対象の基準位置との誤差補正を行い、前記測定対象の三次元位置を補正する位置補正部とを備えることを特徴とする、写真測量装置。
IPC (3件)：
G01B 11/245
, G01C 11/06
, G01C 15/06
G01B11/245 H
, G01C11/06
, G01C15/06 T
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065BB05
, 2F065BB27
, 2F065BB29
, 2F065CC00
, 2F065DD15
, 2F065FF05
, 2F065FF09
, 2F065JJ03
, 2F065JJ05
, 2F065JJ26
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065RR05
出願人引用 (1件)
審査官引用 (9件)
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