特許
J-GLOBAL ID：200903052843365634
高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
矢葺 知之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-207261
公開番号（公開出願番号）：特開2003-022777
出願日： 2001年07月09日
公開日（公表日）： 2003年01月24日
要約：
【要約】【課題】 イオンの引き出し効率が高く、信号増幅器の飽和を避けながら、かつ高感度な超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置を提供すること。【解決手段】 試料ガスを装置内に導入するパルスバルブと、該パルスバルブから放出された試料ガスをパルスイオン化源でイオン化するイオン化領域と、該イオン化領域にて発生したイオンを検出器に導入するイオン光学系と、該イオン光学系から引き出されたイオンを検出するイオン検出器を具備する超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置であって、前記イオン光学系の引き出し電極が出鼻型電極形状であり、かつ該引き出し電極の後方に円筒状のポテンシャルスイッチを配置してなる高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置。
請求項（抜粋）：
試料ガスを装置内に導入するパルスバルブと、該パルスバルブから放出された試料ガスをパルスイオン化源でイオン化するイオン化領域と、該イオン化領域にて発生したイオンを検出器に導入するイオン光学系と、該イオン光学系から引き出されたイオンを検出するイオン検出器を具備する超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置であって、前記イオン光学系の引き出し電極が出鼻型電極形状であり、かつ該引き出し電極の後方に円筒状のポテンシャルスイッチを配置することを特徴とする高感度超音速分子ジェット多光子吸収イオン化質量分析装置。
IPC (4件)：
H01J 49/10
, G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/26
H01J 49/10
, G01N 27/62 K
, G01N 27/64 B
, H01J 49/26
