特許
J-GLOBAL ID：200903052888751160
干渉計および光パルス幅測定装置ならびにそれを用いた光パルス幅測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大垣 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-196884
公開番号（公開出願番号）：特開2001-074560
出願日： 2000年06月29日
公開日（公表日）： 2001年03月23日
要約：
【要約】【課題】 ビームスプリッタが不要な干渉計を単純な光学系で実現する。【解決手段】 干渉計10は、それぞれ透明で同じ屈折率を有する同じ厚さの第1および第2平行平板16および18を具えている。第1平行平板は、当該第1平行平板の主面16aに平行に延在する回転軸20に関して回転可能である。第2平行平板は、当該第2平行平板の主面18aが回転軸と平行になるように設けられている。第1および第2平行平板は、被測定光の一部分が第1平行平板の回転軌跡内を通過すると共に、この被測定光の前記一部分とは別の部分の少なくとも一部分が第2平行平板中を通過するように、配列している。
請求項（抜粋）：
光を透過させることができる第1および第2光透過部を具えており、入射光の一部分が前記第1光透過部を通過するとともに、該入射光の前記一部分とは別の部分の少なくとも一部分が前記第2光透過部を通過するように、前記第1および第2光透過部が配置されており、該入射光の前記第1光透過部および前記第2光透過部における各光学的光路長(各光透過部における該入射光の光路の長さに各光透過部の屈折率を乗じた値を意味する。以下、光路長ともいう)の差(以下、光路差ともいう)が時間的に変化するように構成されていることを特徴とする干渉計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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