特許
J-GLOBAL ID：200903052951787928
プラントプロセス監視装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
須山 佐一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-181269
公開番号（公開出願番号）：特開平7-035655
出願日： 1993年07月22日
公開日（公表日）： 1995年02月07日
要約：
【要約】【目的】 プラント運転履歴デ-タを統計的に処理し、実運用上簡便かつ有効な制限値を自動的に算出すると共に、それらの制限値によりリアルタイムでプロセス量を監視することにより、プラントの運転監視をより精密にできるようにしたプラントプロセス監視装置を提供することを目的とする。【構成】 プラント構成機器からのプロセス諸量を、プロセスデ-タ入力装置より履歴デ-タ保存装置に収録し、保存された履歴デ-タ(時系列デ-タ)より制限値デ-タを算定し、この制限値デ-タと入力されるプロセスデ-タ現在値とを比較し、プロセスデ-タ現在値が制限値を逸脱している場合に警報を出力するよう構成したことを主な特徴とする。
請求項（抜粋）：
プラントよりプロセスデ-タを入力するプロセスデ-タ入力装置と、このプロセスデ-タを決められた周期で収録するデ-タ収録部と、このデ-タ収録部からのデータを時系列データとして保存する履歴デ-タ保存装置と、前記時系列デ-タをもとにプロセスデ-タ監視のための制限値デ-タを算出する制限値算定部と、この制限値デ-タを保存する制限値デ-タ記憶装置と、この制限値デ-タ記憶装置に保存された制限値デ-タと前記プロセスデ-タ入力装置より入力されるプロセスデ-タ現在値とを比較し、プロセスデ-タ現在値が制限値を逸脱している場合に警報を出力する警報出力部とからなるプロセス監視装置において、前記制限値算定部がプロセス量の時系列デ-タを時間的に複数の区間で分類し、該当区間内でのサンプル平均値と標準偏差を算出し、各区間毎の平均値に、標準偏差に所定の係数を乗じた値を加減算することにより上下限値を算出し、各区間毎の上下限値を時間軸に対する回帰曲線で近似することにより現在における制限値を算出する機能を備えていることを特徴とするプラントプロセス監視装置。
IPC (4件)：
G01M 19/00
, G01D 21/00
, G05B 23/02 301
, G06F 3/14 320
