特許

J-GLOBAL ID：200903053027273248

半導体集積回路

発明者： 小牧 寛通
出願人/特許権者： 日本電気アイシーマイコンシステム株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-181996
公開番号（公開出願番号）：特開平6-027188
出願日： 1992年07月09日
公開日（公表日）： 1994年02月04日
要約：

【要約】【目的】 通常動作時における時間遅延を排除し、マスク的にプロック面積を縮小化することのできる内部電源電圧測定可能な半導体集積回路を提供する。【構成】 本発明の半導体集積回路は、外部より供給される電源電圧を、内部降圧回路により降圧し、内部電源電圧V2 として内部回路に供給する半導体集積回路において、前記内部電源電圧V2 を測定する動作モード時に、所定の入力端子より印加される入力電圧V1 と前記内部電源電圧V2 とを比較照合して、当該両電圧レベルの大小に応じて“H”レベルまたは“L”レベルに対応するレベル信号を出力する電圧比較回路16と、所定の外部電源が供給され、電圧比較回路16より出力されるレベル信号をゲート入力として、当該外部電源よりの電流供給を制御されるPMOSトランジスタ17とを少なくとも備え、PMOSトランジスタ17に流れる電流の変換点を読取ることにより、内部電源電圧V2 の値を判別し確認することができる。

請求項（抜粋）：

外部より供給される電源電圧を、内部降圧回路により降圧して内部回路に供給する半導体集積回路において、前記内部降圧回路により降圧された内部電源電圧を測定する動作モード時に、所定の入力端子より印加される入力電圧と前記内部電源電圧とを比較照合して、当該両電圧レベルの大小に応じて“H”レベルまたは“L”レベルに対応するレベル信号を出力する電圧比較回路と、所定の外部電源が供給され、前記電圧比較回路より出力されるレベル信号を介して、当該外部電源よりの電流供給を制御される電流検出回路と、を少なくとも備え、前記電流検出回路による出力電流値の変換点を参照して、内部電源電圧値を判別できることを特徴とする半導体集積回路。

IPC (6件)：

G01R 31/26 ,  G11C 11/413 ,  G11C 11/407 ,  G11C 29/00 ,  G11C 29/00 303 ,  H03K 5/08

FI (2件)：

G11C 11/34 341 D ,  G11C 11/34 354 F