特許

J-GLOBAL ID：200903053029904741

CT装置の評価用ファントムとこれを用いた評価方法および評価用ファントムの製造方法

発明者： 宇山 喜一郎 ,  藤井 正司
出願人/特許権者： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-301228
公開番号（公開出願番号）：特開2001-120532
出願日： 1999年10月22日
公開日（公表日）： 2001年05月08日
要約：

【要約】【課題】 高分解能型のCT装置により得られた断面像の空間分解能を正確に評価する。【解決手段】 放射線の吸収係数が異なり、厚さを薄く加工することのできる銅フィルム3とポリエチレンフィルム4とを交互に円柱材2の側面に積層して評価用ファントム1を構成し、円柱柱2の軸に略垂直な評価用ファントム1の断面についてCT装置を用いて断面像を撮影し、この断面像上における縞状のフィルムの層を観察することによって、断面像の空間分解能を評価する。また、断面像における2種のフィルムのコントラストの違いを用いてMTFを測定することによって、空間分解能をより正確に評価することができる。

請求項（抜粋）：

放射線の吸収係数が異なる2種の層を交互に積層したことを特徴とするCT装置の評価用ファントム。

IPC (2件)：

A61B 6/03 ,  G01T 1/161

FI (2件)：

A61B 6/03 F ,  G01T 1/161 Z

Fターム (8件)：

2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088JJ27 ,  2G088JJ37 ,  4C093AA21 ,  4C093CA02 ,  4C093CA35 ,  4C093GA02