特許

J-GLOBAL ID：200903053037107966

充填不良の探査方法

発明者： 山口 哲夫
出願人/特許権者： 株式会社東横エルメス
代理人 (1件)： 山口 朔生 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-175950
公開番号（公開出願番号）：特開平8-021824
出願日： 1994年07月05日
公開日（公表日）： 1996年01月23日
要約：

【要約】【目的】 板体の種類に関わらず、充填不良部分を確実に探査できる充填不良の探査方法を提供すること。【構成】 板体20の裏面側に存在する充填材30の充填不良を探査する方法において、音波送波用の送波探触子11と音波受波用の受波探触子12を前記板体20の表面に当接し、前記送波探触子11により広帯域の周波数成分を有する音波を板体20の表面側から充填材30へ向けて繰り返し送波し、その反射波を前記受波探触子12により受波して電気信号に変換し、その受波信号をFFTアナライザ14に入力してフーリエ解析し、そのFFTアナライザ14から出力される周波数スペクトルのレベルを計測して充填不良の判断を行う。

請求項（抜粋）：

板体の裏面側に存在する充填材の充填不良を探査する方法において、音波送波用の送波探触子と音波受波用の受波探触子を前記板体の表面に当接し、 前記送波探触子により、広帯域の周波数成分を有する音波を板体の表面側から充填材へ向けて繰り返し送波し、その反射波を前記受波探触子により受波して電気信号に変換し、その受波信号をFFTアナライザに入力してフーリエ解析し、そのFFTアナライザから出力される周波数スペクトルのレベルを計測して充填不良の判断を行う、充填不良の探査方法。