特許
J-GLOBAL ID:200903053071329781

キメチェッカー

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松浦 恵治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-097367
公開番号(公開出願番号):特開平9-262135
出願日: 1996年03月28日
公開日(公表日): 1997年10月07日
要約:
【要約】【課題】 本発明の課題は、個々人によって異なる肌の表面状態、即ち肌の表面の細かいあや(以下単に「キメ」という)のタイプを測定するキメチェッカを提供することにある。【解決手段】 顔の一部を覆い隠すことができる程度の大きさのチェッカー基板であって、その一部に測定対象肌を見通すことができる切欠き部を形成し、この切欠き部のすぐ近くのチェッカー基板表面にキメのタイプの代表見本写真を数種類表示する見本表示部を設けたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
顔の一部を覆い隠すことができる程度の大きさのチェッカー基板であって、その一部に測定対象肌を見通すことができる切欠き部を形成し、この切欠き部のすぐ近くのチェッカー基板表面にキメのタイプの代表見本写真を数種類表示する見本表示部を設けたことを特徴とするキメチェッカー。
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開昭61-193647
  • 特開昭61-193647

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