特許

J-GLOBAL ID：200903053087843531

金属薄板の結晶粒測定方法及び装置

発明者： 橋本 達也 ,  飯塚 幸理
出願人/特許権者： 日本鋼管株式会社
代理人 (1件)： 細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-165370
公開番号（公開出願番号）：特開2001-343366
出願日： 2000年06月02日
公開日（公表日）： 2001年12月14日
要約：

【要約】【課題】 かつ被検査体の厚さ薄い場合でも測定精度を落とすことなく迅速に、結晶粒径を測定できる金属薄板の結晶粒径の測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 広帯域波形発生手段2からの波形を電磁超音波センサー5に与え、その受信波を周波数解析手段8に入力してスペクトルを得る。周波数解析手段8で得られたスペクトルは、波形演算処理手段9に送られ、共鳴周波数における減衰係数αが求められる。結晶粒径算出手段10は、波形処理手段9で求めた共鳴周波数における減衰係数に基づいて結晶粒径を算出する。

請求項（抜粋）：

金属薄板の板厚方向に伝播する超音波を用いて、金属薄板の結晶粒を測定する方法であって、超音波の送信波として、当該金属薄板で共鳴振動を起こす周波数成分を含み、かつパルス幅内で周波数変化をするパルス波形の送信波を用い、金属薄板の板厚方向に伝播した超音波を受信して周波数解析し、その結果得られる受信波形のスペクトルプロファイルから板厚方向に共振を起こす周波数の減衰定数を求め、その値から結晶粒径を算出することを特徴とする金属薄板の結晶粒径測定方法。

IPC (2件)：

G01N 29/10 501 ,  G01N 29/12

FI (2件)：

G01N 29/10 501 ,  G01N 29/12

Fターム (9件)：

2G047AA06 ,  2G047AB04 ,  2G047BA04 ,  2G047BC04 ,  2G047BC14 ,  2G047CA02 ,  2G047GF07 ,  2G047GG09 ,  2G047GG12