特許

J-GLOBAL ID：200903053097923371

形状評価方法および形状評価装置

発明者： 新保 晃平
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-198632
公開番号（公開出願番号）：特開2000-028351
出願日： 1998年07月14日
公開日（公表日）： 2000年01月28日
要約：

【要約】【課題】 レーザプリンタ等に用いられる光走査用レンズにおいて、少ない演算量で正確な形状評価を行うことにより、演算時間を短縮し、安価な演算装置を用いて形状評価を実現させるとともに、金型から成形品を取り出す際の微小な反り、曲がりを形状評価時に影響を与えることなく、正確な評価ができる形状評価方法および装置を提供する。【解決手段】 対象とする光走査用レンズ1の形状評価面の非軸対称非球面がトーリック面を基準とすることを用いて、座標変換による取り付け誤差補正を行うことにより、少ない演算量で成形品の形状測定結果から形状評価・補正に必要な形状成分を抽出し、正確な形状評価を行う。

請求項（抜粋）：

被測定面の短手方向に複数ライン触針子を走査させて点列の座標データを得る形状測定行程と、前記各ラインの近軸曲率半径と曲率中心座標を求める短手形状評価行程と、全ての曲率中心が母線を含む平面に近づくように回転、並進の座標変換を行う第1の取り付け誤差補正行程と、各ラインの頂点よりなる点群と長手方向の設計形状を比較し、形状誤差が最小になるように回転、並進の座標変換を行う第2の取り付け誤差補正行程と、設計値からの形状誤差を抽出する形状評価行程と、を備えたことを特徴とする形状評価方法。

IPC (2件)：

G01B 21/20 101 ,  G01B 5/20 101

FI (2件)：

G01B 21/20 101 Z ,  G01B 5/20 101 Z