特許
J-GLOBAL ID：200903053106487407
偏極陽電子を用いた電子スピン計測装置及び計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
高橋 敬四郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-138964
公開番号（公開出願番号）：特開平9-318758
出願日： 1996年05月31日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【課題】 物質中の電子スピン状態に関する情報を得ることができる電子スピン計測装置を提供する。【解決手段】 測定対象物質に、偏極した陽電子ビームを入射する。測定対象物質に入射した陽電子と物質内の電子とが対になったオルソポジトロニウム及びパラポジトロニウムの生成率を求める。これら生成率から、測定対象物質内の電子スピン情報を得る。
請求項（抜粋）：
測定対象物質に、偏極した陽電子ビームを入射する工程と、測定対象物質に入射した陽電子と物質内の電子とが対になったオルソポジトロニウム及びパラポジトロニウムの生成率を求める工程とを有する電子スピン計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01T 1/32
, G01N 24/10 510 Z
