特許

J-GLOBAL ID：200903053114671950

連続測定装置

発明者： 井ノ上 哲志
出願人/特許権者： 株式会社堀場製作所
代理人 (1件)： ▲吉▼川 俊雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-245698
公開番号（公開出願番号）：特開2002-055049
出願日： 2000年08月14日
公開日（公表日）： 2002年02月20日
要約：

【要約】【課題】 大気中の特定ガス成分の濃度変化を測定する赤外線分析装置など、ゼロ点ドリフト等を定期的に校正しながら運転される連続測定装置において、各校正時の間でのドリフト量の変化に伴う測定精度の低下を防止する。【解決手段】 今回の校正時と以前の校正時とで各々求められたゼロ点ドリフト量An・An-1、スパンドリフト量Bn・Bn-1から、今回校正時以降のドリフト量の変化を推定するドリフト推定関数式fA(t)・fB(t)を求め、これら関数式からドリフト量を推定して、今回校正時から次回校正時までの間の補正を行う。次回校正時までの間でのドリフト量の変化も加味された補正が行われるので、精度の良好な測定結果を得ることができる。

請求項（抜粋）：

測定対象の変化に応じた信号を出力する検出器と、この検出器から出力される検出器出力信号から測定対象の量に対応する測定信号を求めて出力する演算手段とを備える一方、検出器出力信号のドリフト量を求めて補正するための校正が定期的に行われる連続測定装置であって、今回の校正時と以前の校正時とで各々求められたドリフト量から、次回の校正時までの間に変化するドリフト量を推定ドリフト量として求め、この推定ドリフト量に基づいて上記検出器出力信号を補正して測定信号を出力させるドリフト補正手段を設けていることを特徴とする連続測定装置。

IPC (4件)：

G01N 21/61 ,  G01N 1/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/35

FI (4件)：

G01N 21/61 ,  G01N 1/00 C ,  G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 Z

Fターム (18件)：

2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059CC04 ,  2G059EE01 ,  2G059FF08 ,  2G059GG00 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ24 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059MM15 ,  2G059MM16 ,  2G059MM17