特許

J-GLOBAL ID：200903053141786999

同位体ガス分光測定方法及び測定装置

発明者： 森 正昭 ,  久保 康弘 ,  筒井 和典
出願人/特許権者： 大塚製薬株式会社
代理人 (1件)： 亀井 弘勝 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-004844
公開番号（公開出願番号）：特開平10-197443
出願日： 1997年01月14日
公開日（公表日）： 1998年07月31日
要約：

【要約】【課題】成分ガスとして二酸化炭素13CO2 を含む被測定ガスをセルに導き、分光測定をする場合に、被測定ガス中の水分量を測定することにより、成分ガスの濃度又は濃度比を精密に測定し補正する。【解決手段】被測定ガスをセルに導き、成分ガス13CO2 の波長に対応する吸光度を求め、既知の濃度の成分ガスを含む被測定ガスを測定することによって作成された検量線を用いて、成分ガスの濃度を求め、被測定ガスに含まれる水蒸気濃度を測定し、水蒸気濃度が既知の被測定ガスを測定することによって作成された補正線を用いて、測定された水蒸気濃度に応じて成分ガスの濃度を補正する。

請求項（抜粋）：

成分ガスを含む被測定ガスをセルに導き、成分ガスに適した波長の透過光の光量を測定しデータ処理することによって、成分ガスの濃度を測定する同位体ガス分光測定方法において、前記成分ガスが二酸化炭素13CO2 であり、被測定ガスをセルに導き、成分ガスの波長に対応する吸光度を求める第1の工程、既知の濃度の成分ガスを含む被測定ガスを測定することによって作成された検量線を用いて、成分ガスの濃度を求める第2の工程、並びに被測定ガスに含まれる水蒸気濃度を測定し、水蒸気濃度が既知の被測定ガスを測定することによって作成された補正線を用いて、測定された水蒸気濃度に応じて成分ガスの濃度を補正する第3の工程を含むことを特徴とする同位体ガス分光測定方法。

IPC (2件)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/61

FI (2件)：

G01N 21/35 Z ,  G01N 21/61

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 炭素同位体分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-096251   出願人：日本無線株式会社
• 特開昭62-261032