特許
J-GLOBAL ID：200903053148187837
異常陰影候補の検出方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
柳田 征史 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-257978
公開番号（公開出願番号）：特開平10-099306
出願日： 1996年09月30日
公開日（公表日）： 1998年04月21日
要約：
【要約】【課題】 異常陰影候補の検出装置において、疑似異常陰影の誤検出を抑制しつつ、異常陰影候補の検出を的確に行なう。【解決手段】 アイリスフィルター処理の出力値Iとの比較対象たる閾値Tを閾値シフト手段13により段階的に変化させたうえで比較判定手段14により、その各閾値Ti ごとに異常陰影候補領域を検出し、検出された各異常陰影候補領域の面積A(Ti )の変化率S(Ti )を面積変化率算出手段15により求め、適応的閾値算出手段16により変化率S(Ti )の特異点に対応する適応的閾値Tc を求め、この適応的閾値Tc とアイリスフィルター処理による各画素ごとの出力値Iとの比較結果に基づいて異常陰影候補領域内の画素を抽出する。
請求項（抜粋）：
被写体の放射線画像を読み取って得られた画像信号に対してアイリスフィルター処理を施し、該アイリスフィルター処理による各画素ごとの出力値と予め設定された閾値とを比較し、該比較の結果、前記閾値を上回った出力値に対応した画素を異常陰影候補領域内の画素として抽出する異常陰影候補の検出方法において、前記閾値を段階的に変化させて、対応する前記異常陰影候補領域の面積の変化率を求め、該求められた前記閾値と前記異常陰影候補領域の面積の変化率との対応関係に基づいて前記面積の変化率の特異点に対応する閾値を適応的閾値として求め、該適応的閾値と前記アイリスフィルター処理による各画素ごとの出力値との比較結果に基づいて前記異常陰影候補領域内の画素を抽出することを特徴とする異常陰影候補の検出方法。
IPC (4件)：
A61B 6/00
, G03B 42/02
, G06T 1/00
, G06T 7/60
A61B 6/00 350 D
, G03B 42/02 B
, G06F 15/62 390 A
, G06F 15/70 355
