汚染防止方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-248561
公開番号（公開出願番号）：特開平8-086782
出願日： 1994年09月16日
公開日（公表日）： 1996年04月02日
要約：

【要約】 (修正有)【目的】本発明の目的は、テトラゾリウム化合物による還元性物質の測定における機器の汚染防止技術を提供することである。【構成】本発明は、還元性物質の測定において式1で示されるテトラゾリウム化合物を用いる汚染防止方法である。本発明は、機器の汚染防止を可能とする試薬組成物も提供する。(式中、R1は水素原子またはメトキシ基、R2は水素原子またはカルボキシル基またはスルホン酸基である)【効果】本発明は、ホルマザンによる機器の汚染を効果的に防止する。特に光学系として重要な素材である、プラスチックやガラスに対する効果が大きい。

請求項（抜粋）：

還元性物質をテトラゾリウム化合物と接触させ、生成するホルマザンを指標として還元性物質を測定する方法において、下記構造式(1)のテトラゾリウム化合物を用いることを特徴とするホルマザン化合物による汚染防止方法【化1】(式中、R1は水素原子またはメトキシ基、R2は水素原子またはカルボキシル基またはスルホン酸基である)

IPC (2件)：

G01N 33/50 , C12Q 1/32

前のページに戻る