特許

J-GLOBAL ID：200903053205823290

回路欠陥検出システム及び回路欠陥検出方法

発明者： ペター・エム・オネイル ,  ビクター・ジョハンセン ,  ペター・マクスウェル
出願人/特許権者： アジレント・テクノロジーズ・インク
代理人 (1件)： 加藤 公久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-341687
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171529
出願日： 1999年12月01日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
要約：

【要約】【課題】単一しきい値試験を利用して、簡易なIDDQ試験装置と試験方法とを提供する。【解決手段】本発明の回路欠陥検出システム(10)では、被試験回路(14)は電源装置(17)により電源電流が供給される。前記電源電流の第1の値と第2の値を示す第1の信号と第2の信号とが電流計(18)により測定出力される。前記第1と第2の信号とはアナライザ(22)に入力され、前記第1の信号に基づいてしきい値を決定し、前記第2の信号と前記しきい値とを比較して、前記第2の信号と前記しきい値の比較に基づき、前記回路(14)に欠陥があるか否かを判定する。

請求項（抜粋）：

回路内の欠陥を検出するためのシステムであって、回路と、前記回路に電源電流を供給する電源装置と、前記電源電流を入力し、それぞれ、前記電源電流の第1の値と第2の値を示す第1の信号と第2の信号とを出力する電流計と、前記第1と第2の信号とを受信して、前記第1の信号に基づいてしきい値を決定し、前記第2の信号と前記しきい値を比較して、前記第2の信号と前記しきい値の比較に基づき、前記回路に欠陥があるか否かを判定するアナライザとが含まれている、回路欠陥検出システム。

IPC (2件)：

G01R 31/28 ,  G01R 31/26

FI (2件)：

G01R 31/28 D ,  G01R 31/26 G