特許

J-GLOBAL ID：200903053273645693

不織布の面密度測定方法

発明者： 岡安 憲一 ,  加藤 保宏
出願人/特許権者： 日本バイリーン株式会社
代理人 (1件)： 長谷川 芳樹 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-155977
公開番号（公開出願番号）：特開平11-351851
出願日： 1998年06月04日
公開日（公表日）： 1999年12月24日
要約：

【要約】【課題】 光学測定手段及びβ線測定手段を併用することによって、不織布等の三次元的な面密度情報が得られる面密度測定方法を得ることを目的とする。【解決手段】 シート状の不織布1は、生産された後に搬送手段により矢印A方向に搬送される。その際、不織布1の面密度を測定するために、不織布1の幅方向に複数の測定点を同時に測定可能な光学測定手段と、不織布1の搬送される生産方向すなわち、流れ方向を測定し得るβ線測定手段とを備えている。β線の測定によって得られた不織布等の実面密度情報に、光学測定手段によって得られた相対的な二次元の面密度情報を組み合わせることにより、不織布等の所定領域全体に亘る三次元の実面密度情報が得られる。

請求項（抜粋）：

流れ方向に搬送される不織布の幅方向における複数の測定点を光学測定手段により同時に測定し、流れ方向に搬送される前記不織布の流れ方向の測定点をβ線測定手段により測定し、前記光学測定手段で得られた光学測定データと前記β線測定手段により得られたβ線測定データとを組み合わせてデータ処理することによって、前記不織布の面密度を測定することを特徴とする不織布の面密度測定方法。