特許

J-GLOBAL ID：200903053276625138

温度分布の測定方法及び装置

発明者： 若見 俊則 ,  西村 正幸
出願人/特許権者： 住友電気工業株式会社
代理人 (1件)： 上代 哲司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-299237
公開番号（公開出願番号）：特開平8-159882
出願日： 1994年12月02日
公開日（公表日）： 1996年06月21日
要約：

【要約】【目的】 光ファイバ中のラマン後方散乱光に基づいて温度分布を測定する方法及び装置に関する。【構成】 被測定光ファイバ101の一定区間100に付与された温度とその温度に対応する位置を測定する方法であって、光ファイバ101の一端からパルス状の光を入射し、入射端における反射光の測定に際し、?@ ラマン後方散乱光のうち、反ストークス光成分の時間に対する強度の減衰分布を測定し(ロ)、?A 入射波長におけるレーリー散乱の時間に対する強度の減衰分布を測定し(ハ)、?B 反ストークス波長におけるレーリー散乱の時間に対する強度の減衰分布を測定し(ニ)、しかる後、?C 前記工程?A及び?Bのレーリー散乱における減衰分布の算術平均を求め(ホ)、?D 前記工程?Cにおいて、各時間について減衰が生じなかったと仮定したときの増幅率で前記工程?@の反ストークス強度を補正し(ヘ)、?E 前記工程?Dの反ストークス強度を温度に変換して求める(ト)方法である。

請求項（抜粋）：

被測定光ファイバに付与された温度とその温度に対応する位置を測定する方法であって、前記光ファイバの一端からパルス状の光を入射し、光ファイバの各位置から反射された光を入射側で測定に際し、?@ ラマン後方散乱光のうち、反ストークス光成分の時間に対する強度の減衰分布を測定し、?A 入射波長におけるレーリー散乱の時間に対する強度の減衰分布を測定し、?B 反ストークス波長におけるレーリー散乱の時間に対する強度の減衰分布を測定し、しかる後、?C 前記工程?A及び?Bのレーリー散乱における減衰分布の算術平均を求め、?D 前記工程?Cにおいて、各時間について減衰が生じなかったと仮定したときの増幅率で前記工程?@の反ストークス強度を補正し、?E 前記工程?Dの反ストークス強度Iを式、【数1】ここで、h:プランク定数、c:光速、ν:シフト波数、k:プランク定数、T:絶対温度である。によって温度に変換することを特徴とする温度分布の測定方法。