特許
J-GLOBAL ID：200903053348428804
ICデバイスの試験測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
影井 俊次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-268642
公開番号（公開出願番号）：特開平5-113466
出願日： 1991年09月20日
公開日（公表日）： 1993年05月07日
要約：
【要約】 (修正有)【目的】 ピックアンドプレイス手段により変位せしめられるリード加圧手段が、コンタクト部と対面する位置で多少の位置ずれがあったとしても、このコンタクト部に確実に倣うようにしてリードに当接させることができるようにする。【構成】 リード加圧手段24は、コンタクトプレス32を支承するフローティングブロック30と、ピックアンドプレイス手段に固定されるベース板29とから構成され、フローティングブロック30は所定間隔分だけ水平方向に所定量変位可能となっており、かつこのフローティングブロック30をコンタクト部10に倣わせるために、コンタクト部10には、先端が円錐状の呼び込み部15a,15aとなった一対の位置決めピン15,15が突設されており、またフローティングブロック30側には位置決めピン15がほぼ密嵌場に挿嵌される嵌入孔34と嵌入孔34に向けて長手となった嵌入孔35とが形設されている。
請求項（抜粋）：
ピックアンドプレイス手段に、表面実装タイプのICデバイスのパッケージ部を真空吸着する吸着ヘッドと、昇降手段により昇降可能なリード加圧手段とを設け、吸着ヘッドにより搬送路から取り出してICテスタのコンタクト部に装架し、リード加圧手段を下降させることによって、リードをコンタクト部のコンタクトピンに押し付けて、その電気的特性の試験測定を行うようにしたものにおいて、前記リード加圧手段には、前記リードに当接するコンタクトプレスを、前記昇降手段に対して水平方向に変位可能となったフローティングブロックに固着して設け、このフローティングブロックと前記コンタクト部とのいずれか一方側の部材には、先端部にテーパ部を備えた一対の位置決めピンを設け、他方側の部材には、これら位置決めピンが嵌入される一対の嵌入孔を形設し、この一対からなる嵌入孔のうち、一方の嵌入孔を位置決めピンがほぼ密嵌状に嵌入される基準孔とし、他方の嵌入孔をこの基準孔の形設方向に向けて長手となった長孔とすることによって、位置決めピンが嵌入孔に挿入されるときに、前記フローティングブロックをコンタクト部に倣わせる構成としたことを特徴とするICデバイスの試験測定装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01R 1/06
, G01R 31/00
