特許
J-GLOBAL ID：200903053354799148
表面電位計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
丹羽 宏之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-204704
公開番号（公開出願番号）：特開平6-051006
出願日： 1992年07月31日
公開日（公表日）： 1994年02月25日
要約：
【要約】【目的】 表面電位計において、測定電極に混入するノイズに対するシールド効果を大きく向上し、それによりS/N比を充分高く維持し、音さ,測定電極等を小型化し、より小型で高精度の表面電位計を得ること。【構成】 ドラム101の表面に空隙を介して対向する測定電極1と、ドラム101と電極1の中間で両者を通る電気力線Sを切,開する音さ2とを有し、前記電気力線Sの変化量で測定する表面電位計であって、測定電極1の測定方向以外の面に絶縁材を介して電気的遮蔽面を測定電極1と一体に形成して成る表面電位計。
請求項（抜粋）：
対象物体の表面に空隙を介して対向する測定電極と、前記対象物体と前記測定電極の中間で両者間を通る電気力線を切,開するチョッピング手段と、を有し、前記対象物体の表面電位を前記測定電極に入射する電気力線の変化量により測定する表面電位計であって、前記測定電極の測定方向以外の面に、電気的遮蔽面を、絶縁材を介して、前記測定電極と一体に形成して成ることを特徴とする表面電位計。
IPC (3件)：
G01R 29/12
, G03G 5/00 101
, G03G 15/02 101
