特許

J-GLOBAL ID：200903053358955217

偏光干渉顕微鏡

発明者： ラルフ クリューガー
出願人/特許権者： ライカ ミクロジュステムス ヴェツラー ゲーエムベーハー
代理人 (3件)： 加藤 朝道 ,  内田 潔人 ,  石田 康昌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-349847
公開番号（公開出願番号）：特開2004-133465
出願日： 2003年10月08日
公開日（公表日）： 2004年04月30日
要約：

【課題】 ひとみ位置とは無関係に使用可能な偏光位相差顕微鏡。【解決手段】 光源、偏光要素、検光要素、及び該偏光要素と該検光要素との間に配される対物プリズムとを有する偏光干渉顕微鏡において、複屈折補償要素が、前記偏光要素と前記検光要素との間に配されることを特徴とする。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

光源、偏光要素、検光要素、及び該偏光要素と該検光要素との間に配される対物プリズムを有する偏光干渉顕微鏡において、 複屈折補償要素(28)が、前記偏光要素(14)と前記検光要素(26)との間に配されること を特徴とする偏光干渉顕微鏡。

IPC (3件)：

G02B21/06 ,  G02B5/30 ,  G02B27/28

FI (3件)：

G02B21/06 ,  G02B5/30 ,  G02B27/28 Z

Fターム (13件)：

2H049BA02 ,  2H049BA06 ,  2H049BA42 ,  2H049BC23 ,  2H052AA01 ,  2H052AA04 ,  2H052AC04 ,  2H052AC05 ,  2H052AC10 ,  2H052AC27 ,  2H052AD34 ,  2H099AA00 ,  2H099CA05

引用特許：

出願人引用 (3件)

• ドイツ特許第24 01 973号
  
• 米国特許第2,601,175号
  
• 米国特許第3,563,629号