特許

J-GLOBAL ID：200903053388897009

故障箇所の自己診断装置

発明者： 藤尾 三紀夫 ,  木南 明
出願人/特許権者： 株式会社テスコン
代理人 (1件)： 佐々木 功 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-065123
公開番号（公開出願番号）：特開平6-276000
出願日： 1993年03月24日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 本発明は、チップマウンタ等の電子装置における制御装置や駆動装置若しくはセンサー装置を対象にした故障箇所の自己診断装置に関し、故障が発生した場合に自動的に故障箇所を特定して作業能率の向上を目的とする。【構成】 電子装置に設けられる故障箇所の自己診断装置であって、故障した時に自己診断を開始させる診断開始スイッチと、各駆動処理装置4,8若しくは入出力処理部2と電気的に接続されるとともに制御装置1と電気的に接続される診断処理部11,12,13と、該診断処理部を介して得られるデータを基に個別に故障箇所を検出し、かつ、総合的に判断して故障箇所を特定してモニターに表示する診断手段から構成し、故障箇所が迅速に特定されるようにしたことである。

請求項（抜粋）：

制御用ソフトウェアを組み込んで制御信号を出力する制御装置と、該制御装置からの制御信号を入力し駆動信号を出力する駆動処理装置と、該駆動処理装置からの駆動信号で駆動される駆動部と、該駆動部の動作の異常を検知するセンサー装置を具備してなる電子装置に設けられる故障箇所の自己診断装置であって、故障した時に自己診断を開始させる診断開始スイッチと、各駆動処理装置若しくは入出力処理部と電気的に接続されるとともに前記制御装置と電気的に接続される診断処理部と、該診断処理部を介して得られるデータを基に個別に故障箇所を検出し、かつ、総合的に判断して故障箇所を特定してモニターに表示する診断手段から構成したことを特徴としてなる故障箇所の自己診断装置。

IPC (3件)：

H05K 13/04 ,  G01R 31/00 ,  G05B 23/02 301

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-167639
  
• 特開平4-259299
  
• 特開昭63-256320