時分割蛍光X線干渉計測方法および時分割蛍光X線干渉計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：小川勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-162307
公開番号（公開出願番号）：特開平11-014567
出願日： 1997年06月19日
公開日（公表日）： 1999年01月22日
要約：

【要約】【課題】蛍光X線の干渉現象の高速計測を可能とすることにより、着目分子の動的挙動を非結晶状態において評価できる計測手段と計測装置を提供すること。【解決手段】単色化されていない励起線8、時分割計測を可能にする励起線用シャッター10、目的の蛍光X線以外発生しないX線の全反射が可能な表面ラフネスをもつサンプル基板系11、一度に干渉縞全体を計測可能で,かつ,連続的に次の露光を行うことが可能な2次元的検出系14、および基板上のサンプルより構成する。【効果】高速に蛍光X線の干渉現象を計測することにより、蛍光X線を発生する原子でラベルされた分子の動的挙動を基板上に目的分子を配向させるだけで追跡できる。

請求項（抜粋）：

生体高分子から発せられる蛍光X線または特性X線の干渉現象を連続して高速実時間計測し、前記生体高分子等の構造変化を時分割して計測することを特徴とする時分割蛍光X線干渉計測方法。

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