特許

J-GLOBAL ID：200903053428360950

平衡系特性パラメータ測定装置および測定方法

発明者： 山中 健 ,  柳川 光一
出願人/特許権者： 横河・ヒューレット・パッカード株式会社
代理人 (1件)： 久保田 千賀志 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-126835
公開番号（公開出願番号）：特開平5-297040
出願日： 1992年04月19日
公開日（公表日）： 1993年11月12日
要約：

【要約】【目的】 ネットワークアナライザ等を用いて、不平衡系でのSパラメータの測定値から平衡系でのインピーダンス等の特性パラメータを求める。【構成】 不平衡型測定装置1により、方向性ブリッジのSパラメータを予め求め、該パラメータにより測定装置をフル2ポート校正して、2ポート不平衡型Sパラメータテストセットを導出しておく。そして、前記方向性ブリッジ6を介して、被測定デバイス(ツイストペアケーブル7)に測定信号を出力するとともに、ケーブル7からの応答信号を入力し、これらの信号からケーブル7のSパラメータを測定する。この後、Sパラメータによる行列を平衡系ZまたはYパラメータ等の平衡系特性パラメータの行列に変換することで、平衡系でのケーブル7の特性パラメータを求める。

請求項（抜粋）：

2つのポートに方向性ブリッジがそれぞれ接続された不平衡型測定装置を使用した平衡系特性パラメータ測定装置であって、前記不平衡型測定装置は、前記方向性ブリッジを介して接続した被測定デバイスの不平衡系でのSパラメータを測定し、これを平衡系のZまたはYパラメータに変換することで、前記被測定デバイスの平衡系での特性パラメータを求めることを特徴とする平衡系特性パラメータ測定装置。

IPC (2件)：

G01R 27/28 ,  G01R 27/02