特許

J-GLOBAL ID：200903053438021142

磁気デイスクにおける潤滑膜の評価試験方法及び評価試験装置

発明者： 日野林 武夫 ,  中村 幸雄
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 久保 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-221686
公開番号（公開出願番号）：特開平5-060679
出願日： 1991年09月02日
公開日（公表日）： 1993年03月12日
要約：

【要約】【目的】本発明は磁気ディスクにおける潤滑膜の評価試験方法及び評価試験装置に関し、潤滑膜に係わる種々の現象を起こり易くすることによって評価試験の迅速化を図ることを目的とする。【構成】潤滑膜15とスライダ2とを相対的に摺動させながら潤滑膜15を加熱し、これによるヘッド吸着などの種々の現象の有無を摺動摩擦力の変化の形で捉えるように構成される。

請求項（抜粋）：

潤滑膜(15)とスライダ(2)とを相対的に摺動させながら当該潤滑膜(15)を加熱し、これと並行して摺動摩擦力を測定することを特徴とする磁気ディスクにおける潤滑膜の評価試験方法。