特許
J-GLOBAL ID：200903053484794636
自動超音波探傷法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-087165
公開番号（公開出願番号）：特開平5-288724
出願日： 1992年04月08日
公開日（公表日）： 1993年11月02日
要約：
【要約】【目的】自動探傷法において、粗探傷における走査距離を短縮でき、探傷時間の減少ひいては作業能率の向上を図る。【構成】自動走査機構により超音波探触子を被検体表面に沿って方形走査させる。超音波探傷器によりエコー検出を行う。走査ピッチが大きい粗探傷と、走査ピッチが小さい精密探傷とを選択的に組合せて行う。粗探傷の際、探傷感度を基準値よりも高く設定する。その際の走査ピッチを、最小欠陥長さを検出し得る値に設定する。精密探傷の際には、探傷感度を基準値に戻す。これにより、粗探傷における走査距離を短縮し、探傷時間の減少ひいては作業能率の向上を図る。
請求項（抜粋）：
自動走査機構により超音波探触子を被検体表面に沿って方形走査させるとともに、超音波探傷器によりエコー検出を行う自動超音波探傷法であって、走査ピッチが大きい粗探傷と、走査ピッチが小さい精密探傷とを選択的に組合せて行う自動超音波探傷法において、粗探傷の際、探傷感度を基準値よりも高く設定するとともに、その際の走査ピッチを、最小欠陥長さを検出し得る値に設定し、精密探傷の際には、探傷感度を基準値に戻すことを特徴とする自動超音波探傷法。
IPC (2件)：
G01N 29/10 505
, G01N 29/26 501
