特許

J-GLOBAL ID：200903053506862274

テスト項目抽出装置

発明者： 造田 哲雄 ,  新徳 賢一 ,  西口 真人
出願人/特許権者： 日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小川 眞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-092405
公開番号（公開出願番号）：特開2001-282536
出願日： 2000年03月29日
公開日（公表日）： 2001年10月12日
要約：

【要約】【課題】 オブジェクト指向プログラムのテストに必要なテスト項目を少ない工数で作成することができるテスト項目作成支援装置を提供すること。【解決手段】 テスト項目抽出対象のオブジェクト指向プログラムの設計モデルから、パッケージ情報、クラス図情報、汎化関連、操作の情報を取得する第1の手段と、状態図から状態遷移情報を取得する第2の手段と、これら第1および第2の手段で取得した情報に基づき操作単位でテスト項目を作成し、外部記憶装置または出力装置に出力する第3の手段を備える。

請求項（抜粋）：

オブジェクト指向プログラムのテスト項目を抽出する作業を支援するテスト項目抽出支援装置であって、テスト項目抽出対象のオブジェクト指向プログラムの設計モデルから、パッケージ情報、クラス図情報、汎化関連、操作の情報を取得する第1の手段と、状態図から状態遷移情報を取得する第2の手段と、これら第1および第2の手段で取得した情報に基づき操作単位でテスト項目を作成し、外部記憶装置または出力装置に出力する第3の手段を備えることを特徴とするテスト項目抽出装置。

IPC (3件)：

G06F 9/44 530 ,  G06F 9/06 540 ,  G06F 11/28 340

FI (3件)：

G06F 9/44 530 P ,  G06F 9/06 540 U ,  G06F 11/28 340 A

Fターム (12件)：

5B042GA08 ,  5B042HH17 ,  5B042NN04 ,  5B042NN05 ,  5B042NN07 ,  5B042NN23 ,  5B076DB01 ,  5B076DB04 ,  5B076DB09 ,  5B076DD10 ,  5B076DE03 ,  5B076EC05