特許

J-GLOBAL ID：200903053524206252

X線顕微鏡用試料カプセル

発明者： 大関 尚夫
出願人/特許権者： 株式会社ニコン
代理人 (1件)： 永井 冬紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-143935
公開番号（公開出願番号）：特開平7-020011
出願日： 1993年06月15日
公開日（公表日）： 1995年01月24日
要約：

【要約】【目的】 試料観察用のX線透過窓とは別にX線透過窓を設けて、X線の光軸方向の位置決めを精度よく行なう。【構成】 対向させた2枚の平板10,11と、これらの平板10,11に挾持されるスペーサ12と、試料観察用のX線透過窓10c,11cとからなるX線顕微鏡用試料カプセルにおいて、X線透過窓10c,11cとは別にX線透過窓10d,11dを設け、X線透過窓10d,11dを用いて試料カプセルの位置決めを行なうため、X線の光軸方向の位置決めが精度よく行なわれるとともに、試料観察用のX線透過窓10c,11cを用いずに位置決めできるため、観察対象物を損傷せずに済む。また、X線透過窓10d,11dを試料観察用に用いることができるため、観察対象が異なるごとに試料カプセルを取り替えずに済む。

請求項（抜粋）：

それぞれが試料観察用のX線透過窓を有し互いに対向された2枚の平板と、これらの平板に挾持され試料室を画成するスペーサとを有するX線顕微鏡用試料カプセルにおいて、前記平板のX線透過窓と所定距離をおいて、更に他のX線透過窓を設けたことを特徴とするX線顕微鏡用試料カプセル。

IPC (5件)：

G01N 1/04 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/28 ,  G01N 33/48 ,  G21K 7/00