特許

J-GLOBAL ID：200903053526842172

エッジライン測定方法

発明者： 宗貞 信道 ,  金田 善夫 ,  堀内 美智太郎 ,  星山 浩樹
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社 ,  ジャパン・イー・エム株式会社
代理人 (1件)： 石原 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-212089
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178622
出願日： 1995年08月21日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【課題】 周辺にゴミ又は電気的ノイズによる異常点が多数含まれていても特定のエッジラインの位置と傾きを正確に短時間で求める。【解決手段】 エッジラインを含む領域にウインドウを設定するとともにウインドウ内を指定間隔でエッジラインを横切る方向に走査して特定の画像データを取り込み、その走査方向において明暗の変化を有する点をエッジ点としてその座標を求め、ウインドウ内をエッジラインを含み得る大きさの指定間隔で短冊状に分割して小領域群を設定し、小領域群の中から領域内に存在するエッジ点の数の最も多い最多エッジ点包含小領域を求め、最多エッジ点包含小領域内のエッジ点の座標からエッジラインを求める。

請求項（抜粋）：

画像データにおける特定のエッジラインを含む領域にウインドウを設定するとともにウインドウ内を指定間隔でエッジラインを横切る方向に走査することにより抽出される特定の画像データを取り込むウインドウ設定抽出工程と、走査方向において明暗の変化を有する点をエッジ点としてその座標を求めるエッジ点検出工程と、ウインドウ内をエッジラインを含み得る大きさの第1指定間隔で短冊状に分割して小領域群を設定する小領域形成工程と、小領域群の中から領域内に存在するエッジ点の数の最も多い最多エッジ点包含小領域を求める最多エッジ点包含小領域選出工程と、最多エッジ点包含小領域内のエッジ点の座標からエッジラインを求めるエッジライン推定工程とを備えることを特徴とするエッジライン測定方法。

IPC (3件)：

G01B 11/00 ,  G06T 7/00 ,  G06T 9/20

FI (2件)：

G06F 15/62 405 B ,  G06F 15/70 335 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開平2-307167
  
• 特開平2-248054