特許
J-GLOBAL ID：200903053528662449
伝送路試験方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
泉 和人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-046114
公開番号（公開出願番号）：特開平5-083330
出願日： 1992年01月31日
公開日（公表日）： 1993年04月02日
要約：
【要約】【目的】 本発明は伝送路の完全性をテストするための簡易で経済的な改良された伝送路試験方法及び装置を提供する。【構成】周期的な第1の2n疑似ランダム入力テストパターンを発生する第1の手段(10)と、伝送路を経由して出力された出力パターンに対応するnビットビットパターンに基づいて、第1の手段とは独立に自由動作モードで周期的な第2の2nのパターンを発生する第2の手段(51)と、第2のパターンと伝送路を経由して出力された出力パターンとを比較し、結果がミスマッチであれば偽条件信号(F)を送出する比較手段(60)とから構成される。
請求項（抜粋）：
一連の入力テストパターンを受信するx個の入力端子と対応するy個の出力端子を有する複数の伝送路を含む回路をテストする方法において、(a)各パターンがnビットを含み、2nの疑似ランダム入力テストパターンを発生する手順と、(b)前記手順で発生した入力テストパターンの一部又は全部をx個の入力端子に加え、対応するy個の出力端子に伝送する手順と、(c)出力端子からの出力パターンに対応するnビットのビットパターンに基づいて、複数のビットで構成され第1の疑似ランダム入力テストパターンに対応した第2のパターンを発生する手順と、(d)第2の各パターンと対応する出力パターンとを比較する手順と、を備えたことを特徴とする伝送路試験方法。
IPC (2件)：
H04L 29/14
, H04L 25/02 301
