特許
J-GLOBAL ID：200903053559047211
光ファイバグレーティング物理量計測システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
波多野 久
, 関口 俊三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-338321
公開番号（公開出願番号）：特開2004-170313
出願日： 2002年11月21日
公開日（公表日）： 2004年06月17日
要約：
【課題】参照光をファイバブラッググレーティングに照射して得られたFBG反射液の中心波長を簡易な方法でより精度よく求め、さらにこの中心波長を物理量に変換することにより、温度あるいは歪み等をより高精度で短時間に計測することができる光ファイバグレーティング物理量計測システムである。【解決手段】光ファイバグレーティング物理量計測システム20は、参照光を出力する光源21に接続されその光路にファイバブラッググレーティング22を設けた光ファイバ23と、光路を分岐する反射光分岐器24と、分岐された光路の端部に接続され、反射光を受光してスペクトルを求める光検出処理部26および反射光のスペクトルに対し所定の波長区間について最小2乗フィッティングを実施して得られた曲線の最大値からファイバブラッググレーティング22の反射光の波長中心を求める波長中心計測部28を設けた物理量計測計とを具備する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
参照光を出力する光源に接続されその光路にファイバブラッググレーティングを設けた光ファイバと、この光ファイバにより形成される光路を分岐する反射光分岐器と、この反射光分岐器により分岐された光路の端部に接続され、前記ファイバブラッググレーティングの反射光を受光してスペクトルを求める光検出処理部および前記ファイバブラッググレーティングの反射光のスペクトルに対し所定の波長区間について最小2乗フィッティングを実施して得られたフィッティング曲線の最大値から前記ファイバブラッググレーティングの反射光の波長中心を求める波長中心計測部を設けた物理量計測計とを具備することを特徴とする光ファイバグレーティング物理量計測システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (2件)：
引用特許：
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