特許

J-GLOBAL ID：200903053569923710

バウンダリスキャン回路

発明者： 脇田 員孝
出願人/特許権者： 日本電気エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-161716
公開番号（公開出願番号）：特開平9-015300
出願日： 1995年06月28日
公開日（公表日）： 1997年01月17日
要約：

【要約】【目的】 テストデータ長、テスト時間を短縮化できるバウンダリスキャン回路を提供する。【構成】 バウンダリスキャン回路部を有する複数のIC1〜6と、複数のIC1〜6各間をバイパス可能に接続するテストデータのための複数のスキャンパス(ATDI端子-ATDO端子間のパスと、ADI端子-ADO端子間のパスとにより構成される)と、複数のスキャンパスのうちの一本を選択するスキャンパス選択手段としてのセレクタA〜Eとを有している。

請求項（抜粋）：

バウンダリスキャン回路部を有する複数の集積回路と、前記複数の集積回路間をバイパス可能に接続する複数のスキャンパスと、前記複数のスキャンパスのうちの一本を選択するスキャンパス選択手段とを有することを特徴とするバウンダリスキャン回路。

IPC (4件)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822

FI (4件)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 P ,  G01R 31/28 V ,  H01L 27/04 T